镀膜腔体集成套件 — 近制程测量解决方案

通过对晶圆及金属薄膜层进行电气特性表征,提升产能与良率

近制程集成选项概览

SURAGUS 提供多种方案,为集群式沉积设备集成先进的测量解决方案:

更高的晶圆良率与更大的产能

得益于非接触测量方式,实现高速检测,避免对薄膜层造成任何损伤

更高的产能

通过提升设备运行时间实现

更优的器件性能与更高的良率

通过腔内实时检测,即时优化工艺参数

金属化镀膜机传感器集成

  • 承载晶圆的旋转行星盘
  • 金属沉积过程中(Ti、Cu、Al、Ag、Au 等)的原位测量
  • 晶圆旋转期间持续测量
  • 自动识别晶圆并连续采集数据

光学镀膜机传感器集成

  • 承载玻璃基板的旋转平台
  • 金属沉积过程中(Ti、Cu、Al、Ag、Au 等)的原位测量
  • 基板旋转期间持续测量
  • 方块电阻随时间变化的实时记录

直列式晶圆镀膜机传感器集成

  • 适用于玻璃或晶圆基板的水平直列式设备
    金属沉积过程中(Ti、Cu、Al、Ag、Au 等)的原位测量
  • 基板传送期间持续测量
  • 方块电阻随时间变化的实时记录

集群式沉积设备传感器集成

  • 晶圆从晶圆盒经传送室转移至工艺腔体和分析腔体
  • 在专用测试腔体中对晶圆及薄膜层进行非接触式电气计量表征

集群式沉积设备传感器集成

  • 安装于传送室与沉积室之间的互联测量模块,用于采集线扫描轮廓数据

装载锁传感器集成套件

  • 适用于装载锁的传感器集成套件
  • 支持 49 点测量或线扫描轮廓采集

配备成像集成套件的 EFEM

  • 基于非接触式涡流传感器的自动化晶圆传送平台传感器集成套件

闸阀与传送传感器集成套件

  • 传送室与沉积室之间的闸阀,可集成非接触式涡流传感器,用于在晶圆通过时采集线扫描轮廓数据

高温环境直列式基板对基板(S2S)镀膜机

  • 集成 XXS 高温传感器的水平直列式设备
  • 传感器与基板之间的距离至少为 20 mm